КОМПЕНСАЦИЯ ЛОКАЛЬНЫХ ДЕФЕКТОВ ИЗОБРАЖЕНИЙ, СОЗДАННЫХ В ТЕХНИКЕ ТРОЙНОЙ ЦВЕТНОЙ ФОТОГРАФИИ

Локализация дефектов

 

Локализация дефектов

С учетом особенностей техники тройной цветной фотографии сформулировано следующее условие, при выполнении которого объект на изображении будет считаться дефектом: подозрительная область рассматриваться как дефект в том случае, если она проявляется не более чем в двух цветовых каналах.



Сформулированы следующие основные принципы локализации дефектов.

1. Поиск областей, подозреваемых на дефектные, производится раздельно по каждому из трех каналов (R, G, B) цветосовмещенного изображения раздельно. Исключение составляют дефекты (или артефакты), проявляющиеся в виде монохромных фрагментов, - в этом случае при поиске анализируются значения яркости на всех каналах.

2. Применяется набор алгоритмов-детекторов дефектов.

3. Для поиска дефектов определенной группы может применяться отдельный алгоритм (в то же время, отдельный алгоритм может находить дефекты нескольких групп).

4. Результатом применения алгоритма является маска дефектных областей.

5. Принятие решения об отнесении подозрительной области к дефектам производится по результатам анализа бинарных масок для всех цветовых компонент одновременно.

6. В целях сохранения исторической достоверности содержания изображения маски дефектных областей должны проверяться экспертами.

Результатом работы процедуры является тройка (или нрезультирующих масок.


Разработанная процедура поиска включает следующие шаги.

1. Сегментация каждого из тройки изображений. Выделяются относительно однородные крупные области (например, небо, вод-ная поверхность, здания).

2. Для каждой из выделенных областей применяются последовательно алгоритмы локализации дефектов. Результатом является набор масок подозрительных областей..

3. Формирование результирующих масок для каждой из цветовых компонент.

4. Координаты найденных дефектов заносятся в базу данных для последующей ве-рификации экспертами. В процессе верифи-кации ложные объекты удаляются с масок.

Блок-схема процедуры локализации дефектов:


 


Применяемые алгоритмы:

  • пороговая бинаризация;
  • определение областей с доминирующим цветом;
  • на основе карты перепадов яркости;
  • на основе анализа матрицы вторых моментов;
  • на основе морфологических операций с неплоским структурирующими элементами;
  • пороговая классификация с вычисляемым по статистическим характеристикам яркости в скользящем окне.
   

HomeCollectionProblemClassification • Detection • CompensationExamplesBiographyReferences